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Teseq特測(cè)NSG 4060低頻抗擾度測(cè)試系統(tǒng)NSG 4060是針對(duì)15 Hz至150 kHz頻率范圍的EMC抗擾度測(cè)試系統(tǒng)。它由一個(gè)正弦波發(fā)生器，功率放大器，EUT監(jiān)視接口和取決于應(yīng)用的不同耦合單元組成，例如，用于測(cè)試IEC / EN 61000-4-16的NSG 4060-1，包括針對(duì)162 / 3 Hz至200 Hz，測(cè)試電平高為300V。根據(jù)IEC / EN 61000-4-19的電壓

NSG437靜電放電模擬器 ESD測(cè)試，清晰而簡(jiǎn)單，空氣和接觸放電至30 kV，彩色觸摸屏控件，*的電壓保持功能 活動(dòng)日志

特測(cè)NSG435ESD仿真器可編程放電電壓200 V至16.5 kV，穩(wěn)定的充電電壓，預(yù)編程的IEC / EN 61000-4-2測(cè)試設(shè)置 真空氣放電擊穿電壓 緊湊輕巧的設(shè)計(jì)。

TESEQ NSG438ESD仿真器NSG 438全面滿足幾乎所有標(biāo)準(zhǔn)要求。基于60多個(gè)可選放電網(wǎng)絡(luò)，NSG 438可以滿足當(dāng)今任何汽車制造商的標(biāo)準(zhǔn)。

EM TEST TSS 500N10通訊浪涌模擬器TSS 500M/N 系列能夠覆蓋 Bellcore GR-1089-Core、FCC 97-270 （part 68）、各項(xiàng) ITU-T 標(biāo)準(zhǔn)以及多項(xiàng) EN/IEC 標(biāo)準(zhǔn)和其他標(biāo)準(zhǔn)對(duì)通訊浪涌測(cè)試的要求。與了解更多，請(qǐng)點(diǎn)擊“更多信息“。

EM TEST VCS 500N10浪涌模擬器應(yīng)用 組合波模擬器 浪涌的發(fā)生是由于直接或間接的雷電擊中戶外電路所致，這將會(huì)引起瞬態(tài)的高壓或大電流。浪涌干擾的另外一個(gè)來(lái)源是開(kāi)關(guān)干擾和系統(tǒng)故障。幾乎所有的電子電氣設(shè)備都會(huì)受到浪涌的影響。這更加證明了浪涌測(cè)試的必要性。浪涌電壓可達(dá)數(shù)千伏特，浪涌電流則可達(dá)數(shù)千安培。 標(biāo)準(zhǔn)

EM TEST VSS 500N12電壓浪涌模擬器電壓浪涌模擬器 VSS 500N12 能夠產(chǎn)生 IEC 標(biāo)準(zhǔn)所要求的高能量脈沖。所產(chǎn)生的電壓浪涌脈沖用于測(cè)試元器件、插座、插頭、電纜和許多其它器件的耐壓能力。

EM TEST LD200N拋負(fù)載發(fā)生器拋負(fù)載脈沖模擬交流發(fā)電機(jī)正在向電池輸入電流的過(guò)程當(dāng)中，電池與交流發(fā)電機(jī)突然斷開(kāi)連接（例如：腐蝕造成的突然斷開(kāi)）的情況。這樣的拋負(fù)載脈沖為高能量脈沖，具有很強(qiáng)的破壞性。LD 200N 模擬這種高能量脈沖，持續(xù)時(shí)間達(dá)數(shù)百毫秒。