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EM TEST AIF 503N 三相閃爍阻抗能夠提供滿(mǎn)足兩種測(cè)試應(yīng)用需求的阻抗值（AIF 503N16 除外）。它既能提供符合 IEC 60725 標(biāo)準(zhǔn)閃爍測(cè)量要求和 IEC/EN 61000-3-3 標(biāo)準(zhǔn)要求的閃爍阻抗值，又能提供對(duì)額定電流大于 16A 并連接到供電電流大于 100A 的低壓供電網(wǎng)絡(luò)上的 DUT 進(jìn)行閃爍測(cè)量所需的阻抗值。

EM TEST ACS 503N 三相AC電壓源ACS 503N 系列是用于諧波和閃爍測(cè)試的三相交流源。它既符合 EN / IEC 61000-3-2，EN / IEC 61000-3-3，JIS C 61000-3-2標(biāo)準(zhǔn)對(duì)諧波和閃爍的測(cè)試要求，又能滿(mǎn)足EN / IEC 61000-3-11 和 EN / IEC 61000-3-12 標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于每相標(biāo)稱(chēng)電流大于 16 A 的被試設(shè)備進(jìn)行測(cè)量的要

EM TEST COMPACT NX7抗干擾信號(hào)模擬器Compact NX7 輕便的組合式模擬器，帶有 7 英寸觸控屏，內(nèi)置脈沖群測(cè)試模塊（5.5kV），浪涌混合波/通訊波測(cè)試模塊（7.0kV）和電壓跌落測(cè)試模塊，能夠滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)（基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用標(biāo)準(zhǔn)）和產(chǎn)品系列標(biāo)準(zhǔn)對(duì)瞬變，脈沖，浪涌和電壓跌落測(cè)試的各種要求，可通過(guò)自動(dòng)控制的外置耦合網(wǎng)絡(luò)（高可達(dá)每相 200A）進(jìn)行三相被試設(shè)備測(cè)試

EMTEST PFM 200N 汽車(chē)電源故障模擬器滿(mǎn)足德國(guó)汽車(chē)廠(chǎng)家通用標(biāo)準(zhǔn) LV 124 標(biāo)準(zhǔn)脈沖 E10、E13 和 E14，以及 LV 148 標(biāo)準(zhǔn)脈沖E48-09 的測(cè)試要求。它同樣滿(mǎn)足 GMW 3172 標(biāo)準(zhǔn) sec. 9.2.18 關(guān)于微中斷上升/下降時(shí)間低至 200 ns 的要求。PFM 200N帶有一個(gè) 100 mA - 200 A電源線(xiàn)開(kāi)關(guān)；一個(gè)獨(dú)立的接地回路開(kāi)關(guān)

COMPACT NX5工業(yè)電子測(cè)試抗干擾信號(hào)模擬器COMPACT NX5 超小型模擬器是一臺(tái)多功能測(cè)試設(shè)備，能夠滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)（基本標(biāo)準(zhǔn)與通用標(biāo)準(zhǔn)）和產(chǎn)品系列標(biāo)準(zhǔn)對(duì)瞬變、脈沖、浪涌和電壓跌落測(cè)試的各種要求。

CA BS200N電子開(kāi)關(guān)的負(fù)載阻抗BS 200N系列半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)的開(kāi)關(guān)性能應(yīng)在0.6ohm至50uH的負(fù)載阻抗下進(jìn)行驗(yàn)證。 CA BS 200N直接連接到BS 200Nx的輸出。BS 200Nx的開(kāi)關(guān)參數(shù)是在連接負(fù)載的情況下測(cè)量的。

AutoWave車(chē)載供電系統(tǒng)波形記錄發(fā)生模擬器在當(dāng)今的汽車(chē)測(cè)試中，電池仿真越來(lái)越成為一個(gè)問(wèn)題。波形變得越來(lái)越復(fù)雜。諸如曲柄之類(lèi)的標(biāo)準(zhǔn)化單一現(xiàn)象仍在測(cè)試中，但是對(duì)于在真實(shí)條件下測(cè)試整車(chē)或整車(chē)的一部分，現(xiàn)實(shí)生活中的信號(hào)具有更高的興趣。常見(jiàn)的任意生成器通常無(wú)法測(cè)試這些要求，特別是如果需要在一次測(cè)試中迭代各種測(cè)試參數(shù)時(shí)。

AMP200N2低頻信號(hào)和放大器AMP 200N2被設(shè)計(jì)為低頻信號(hào)源，可生成正弦信號(hào)，用于模擬航空電子，軍事和汽車(chē)行業(yè)中各種標(biāo)準(zhǔn)所要求的紋波噪聲和接地偏移噪聲。