日置粉末阻抗測試系統(tǒng)LCR測試儀 IM3523

簡要描述：日置粉末阻抗測試系統(tǒng)LCR測試儀 IM3523

測量頻率40Hz - 200kHz的LCR測試儀

應用于生產線和自動化測試領域的理想選擇

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詳細介紹

品牌	HIOKI/日本日置	測量頻率	40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz)
輸出阻抗	正常模式：100Ω	功能	比較器，分類測量(BIN功能)，面板讀取/保存、存儲功能
接口	EXT I/O(處理器)，USB通信(高速) 選件：RS-232C,GP-IB,LAN任選一	電源	100～240V AC，50/60Hz，最大50VA
尺寸及重量	260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg

日置粉末阻抗測試系統(tǒng)LCR測試儀 IM3523

日置粉末阻抗測試系統(tǒng)LCR測試儀 IM3523

測量頻率40Hz - 200kHz的LCR測試儀

應用于生產線和自動化測試領域的理想選擇

概要

● 基本精度±0.05％，測量范圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產品10倍的速度不間斷測試。
● 內置比較器和BIN功能
● 2ms的快速測試時間

本產品不標配測量探頭和測試夾具。請結合應用單獨選擇和購買合適的測量探頭和測試夾具。所有探頭均帶有一個1.5D-2V的同軸電纜。RS-232C接口連接：交互連接可使用交叉電纜。您可使用RS-232C電纜9637，不需要硬件控制器。

日置粉末阻抗測試系統(tǒng)LCR測試儀 IM3523基本參數(shù)

測量模式	LCR,連續(xù)測試
測量參數(shù)	Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC電阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
測量量程	100mΩ～100MΩ,10個量程(所有參數(shù)根據(jù)Z定義)
可顯示量程	Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [單位]* ～9.99999G [單位])(*為最高分辯率時的顯示位數(shù)）只有 Z和Y顯示真有效值 θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.00000～9.99999) Q: ± (0.00～99999.9), Δ%: ± (0.0000%～999.999%)
基本精度	Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
測量頻率	40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz)
測量信號電平	正常模式 V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA～50mArms,10μArms
輸出阻抗	正常模式：100Ω
顯示	單色LCD
測量時間	2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能	比較器，分類測量(BIN功能)，面板讀取/保存、存儲功能
接口	EXT I/O(處理器)，USB通信(高速) 選件：RS-232C,GP-IB,LAN任選一
電源	100～240V AC，50/60Hz，最大50VA
尺寸及重量	260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
附件	電源線×1，使用說明書×1，CD-R(包括PC指令和樣本軟件)×1

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