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Tektronix泰克S530/S540 /S500參數(shù)測試系統(tǒng)產(chǎn)品簡介：帶有 KTE 7 軟件的吉時(shí)利 S530 系列參數(shù)測試系統(tǒng)提供高速、靈活的配置，能夠隨著新應(yīng)用的出現(xiàn)和需求變化而不斷發(fā)展。S530 可進(jìn)行高達(dá) 200 V 的測試，而 S530-HV 可以在任何引腳上進(jìn)行高達(dá) 1100 V 的測試，與競爭解決方案相比，吞吐量提高了 50%。

吉時(shí)利Keithley4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀（參數(shù)測試儀）加快各類材料、半導(dǎo)體器件和先進(jìn)工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能電學(xué)特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。

LET-SP802功率半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)是一款測量與分析功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)的專用儀器，為所有類型的功率半導(dǎo)體器件提供靜態(tài)參數(shù)測量解決方案。LET-SP802半導(dǎo)體測試系統(tǒng)能實(shí)現(xiàn)精確測量、分析功率半導(dǎo)體器件的靜態(tài)參數(shù)。

半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)硬件優(yōu)勢: 1. 采用先發(fā)布的12 bit 示波器：正確反映波形的細(xì)節(jié)，并準(zhǔn)確計(jì)算出參數(shù) 2. 采用先發(fā)布的光隔離、高CMRR探頭系統(tǒng)，解決SIC/GAN的 測試難點(diǎn) 3. 高帶寬的電壓和電流探測，彌補(bǔ)一般系統(tǒng)對SIC/GAN的測量要求

LET-5000半導(dǎo)體靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是一款測量與分析功率靜態(tài)參數(shù)的專用儀器，為所有類型的功率器件提供靜態(tài)參數(shù)測量解決方案。

IGCT自動測試系統(tǒng)核心是安規(guī)及導(dǎo)通性能測試的訂制化標(biāo)準(zhǔn)測試平臺，其核心是采用了各種儀器儀表（萬用表、內(nèi)阻測試儀、安規(guī)測試儀、電源等）和繼電器板卡、配合測試機(jī)柜、產(chǎn)品的定制工裝，利用虛擬儀器技術(shù)相關(guān)功能進(jìn)行測試，并將檢測結(jié)果保存到本地盤，MES上傳到客戶指定數(shù)據(jù)庫；測試項(xiàng)目和內(nèi)容步驟保存到數(shù)據(jù)庫里面，數(shù)據(jù)庫包含單步測試功能模塊，儀器測試指令，工號權(quán)限，增加和刪除編輯項(xiàng)目可以在數(shù)據(jù)庫操作界面完成。

KC-3105 第三代功率半導(dǎo)體器件動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)中可同時(shí)完成HTRB和DHTRB測試，整體架構(gòu)模塊化，通訊協(xié)議、通訊接口等采用統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)，便于后期擴(kuò)展和維護(hù)。該系統(tǒng)集成度高、應(yīng)用覆蓋面廣，系統(tǒng)采用軟、硬件一體化設(shè)計(jì)且功能豐富，在保證系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行的同時(shí)，可以快速滿足功率半導(dǎo)體可靠性測試需求。

KC3110功率半導(dǎo)體高精度靜態(tài)特性測試系統(tǒng)(實(shí)驗(yàn)室)，基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規(guī)級模塊的新興要求而進(jìn)行的一次高標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品開發(fā)。本系統(tǒng)可以在3KV和1000/2000A的條件下實(shí)現(xiàn)精確測量和參數(shù)分析，漏電流測試分辨率高達(dá)fA，電壓測試分阱率最高可這nV級，以及3000V高壓下的寄生電容的精密測量。全自動程控軟件，圖型化上位機(jī)操作界面。內(nèi)置開關(guān)切換矩陣保證測試效率。