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  • 日本電子JEM-120i透射電子顯微鏡
    日本電子JEM-120i透射電子顯微鏡

    日本電子JEM-120i透射電子顯微鏡 120kV透射電鏡多用于生物、高分子等軟材料領(lǐng)域。這次開發(fā)的新型電子顯微鏡JEM-120i以“緊湊的”,“易于使用的”和“可擴展的”為理念,設(shè)備外觀煥然一新,而且從操作到維護都很簡單化。

    更新日期:2025-04-23型號:訪問量:129
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  • 日本電子JEM-2100Plus透射電子顯微鏡
    日本電子JEM-2100Plus透射電子顯微鏡

    日本電子JEM-2100Plus透射電子顯微鏡 EM-2100Plus電子顯微鏡,不僅擁有信譽的JEM-2100 的電子光學系統(tǒng),還增加了最新的控制系統(tǒng),大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能,操作方便,簡明易懂,在材料、醫(yī)學、生物學等多個研究領(lǐng)域提供優(yōu)異的解決方案。

    更新日期:2025-04-23型號:訪問量:135
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  • 日本電子JEM-F200透射電子顯微鏡
    日本電子JEM-F200透射電子顯微鏡

    日本電子JEM-F200透射電子顯微鏡 以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設(shè)計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。

    更新日期:2025-04-23型號:訪問量:105
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  • 日本電子JEM-Z200FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡
    日本電子JEM-Z200FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡

    JEM-Z200FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標配冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器(Ω能量過濾器)、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系統(tǒng)。新設(shè)計的Ω能量過濾器與無孔位相板的組合,進一步提高了生物樣品的襯度。

    更新日期:2025-04-22型號:日本電子訪問量:293
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  • 日本電子JEM-ARM200FNEOARM透射電子顯微鏡
    日本電子JEM-ARM200FNEOARM透射電子顯微鏡

    JEM-ARM200FNEOARM透射電子顯微鏡NEOARM” 標配了日本電子獨自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍(Cold-FEG)和全新的高階球差校正器(ASCOR)。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下,均能實現(xiàn)原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了自動像差校正系統(tǒng),可以自動進行快速準確的像差校正。

    更新日期:2025-04-16型號:日本電子訪問量:181
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  • 日本電子JEM-Z300FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡
    日本電子JEM-Z300FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡

    JEM-Z300FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配備了冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器(Ω能量過濾器)、側(cè)插式液氮冷卻樣品臺和自動樣品交換系統(tǒng),能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。樣品交換系統(tǒng)內(nèi)最多可以存儲12個樣品,可以任意取出和交換一個或數(shù)個樣品,能靈活地進行測試排序。

    更新日期:2025-04-16型號:日本電子訪問量:149
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  • 日本電子JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡
    日本電子JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡

    JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡 JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術(shù)整合在一起,實現(xiàn)了高度穩(wěn)定性和高分辨率,以精煉的外觀設(shè)計呈現(xiàn)。該設(shè)備做成了操作流程菜單,按照該菜單,操作人員即使不直接操作設(shè)備也能采集到數(shù)據(jù)。

    更新日期:2025-04-15型號:日本電子訪問量:166
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  • 日本電子JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡
    日本電子JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡

    JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡 JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產(chǎn)品,該設(shè)備在性能上有了進一步的提高,無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分析。

    更新日期:2025-04-15型號:日本電子訪問量:161
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